半导体wafer晶圆颗粒缺陷表面检查灯 黄绿光表面检查灯 白光表面检查灯

半导体wafer晶圆颗粒缺陷表面检查灯是一款黄绿光表面检查灯（或者是白光），人眼敏感的黄绿光照在工件表面折射出光路，使得操作员肉眼很容易识别出半导体（晶圆/晶片）表面的缺陷，提高工作效率。可精确检查到1um以下的瑕疵缺陷，拥有有绿光和黄光2种颜色的复合光，光源强度可达40万LX，比传统的检查灯，效用增强10倍！除了可以应用在半导体晶圆晶片表面瑕疵检查，还可以检查例如：液晶玻璃、液晶屏幕、汽车玻璃、基材……表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵。

半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯
半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯参数:

光 源：30W 高亮度进口LED加定制的光学镜片； LED平均寿命是30000小时
照度：距离40cm → 28万lx；距离30cm → 40万 lx
照射面积：  9-20cm直径的光圈 在40cm的距离（通过调焦距调光）
调光方式： 无极调光：从0% ~ 100%；
消耗功率：30 W
电源：调光器（输入110-240V,输出12-24V,2A），可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性： > 90 ％