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CH-1-S型薄膜测厚仪--国产
来自：深圳市沃霖电子有限公司
1人民币
发布时间：2012-11-7
关注次数：558
产品参数
商品详情
、CH－1－S型薄膜测厚仪产品简介
本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
二、技术指标
量 程：0-1mm
分 度 值：0.001mm
上测头曲率半径：15-50mm
测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
测量精度：100vm以内＜1vm
本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
二、技术指标
量 程：0-1mm
分 度 值：0.001mm
上测头曲率半径：15-50mm
测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
测量精度：100vm以内＜1vm
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