日本HIRAYAMA高加速寿命试验箱广泛应用于电子零件制造商或半导体、光伏、电路板等相关使用者，以及塑料、橡胶、黏合剂和电镀材料相关的制造商或使用者的相关科研实验室。

  产品特点：

  1、高效双箱体系统;

  2、彩色LCD显示屏;

  3、触摸屏输入;

  4、信息功能;

  HAST适用于密封性能的检测，加速寿命试验，适用于产品的设计及验证阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。

  HAST适用于评估储存在高温/高湿度环境中的半导体等电子元件、材料的耐久性或因环境引发的失效性。

  日本HIRAYAMA高加速寿命试验箱产品来源：

  http://www.sz-skyan.com/ParentList-793408.html

  https://www.ybzhan.cn/st133409/list_793408.html