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MiniTest3100，MiniTest3100涂层测厚仪

来自：上海鼎徵仪器仪表设备有限公司

28000人民币

发布时间：2012-8-12 关注次数：211

产品参数

商品详情

德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；
所有型号均可配所有探头；
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；
可使用一片或二片标准箔校准。

MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪功能

型号	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)	1	1	10	99
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计，可设宽容度极限值)	-	1	10	99
可用各自的日期和时间标识特性的组数	-	1	500	500
数据总量	1	10000	10000	10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar	-	√	√	√
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar	-	-	√	√
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
存储显示每一个应用行下的所有组内数据	-	-	-	√
分组打印以上显示和存储的数据和统计值	-	-	√	√
显示并打印测量值、打印的日期和时间	-	√	√	√
其他功能
透过涂层进行校准(CTC)	-	√	√	√
在粗糙表面上作平均零校准	√	√	√	√
利用计算机进行基础校准	√	√	√	√
补偿一个常数(Offset)	-	-	√	√
外设的读值传输存储功能	-	√	√	√
保护并锁定校准设置	√	√	√	√
更换电池是存储数值	√	√	√	√
设置极限值	-	-	√	√
公英制转换	√	√	√	√
连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最大最小值	-	-	√	√
连续测量模式中测量稳定后显示读数	-	-	√	√
浮点和定点方式数据传送	√	√	√	√
组内单值延迟显示	-	√	√	√
连续测量模式中显示最小值	√	√	√	√

可选探头参数(探头图示)
所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能

探头		量程	低端分辨率	误差	最小曲率半径(凸/凹)	最小测量区域直径	最小基体厚度	探头尺寸
磁感应法	F05	0-500μm	0.1μm	±(1%±0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
	F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x170mm
	F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F10	0-10mm	5μm	±(1%±10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
	F20	0-20mm	10μm	±(1%±10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
	F50	0-50mm	10μm	±(3%±50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
两用	FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm N50μm	φ15x62mm
	FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面	30mm	F0.5mm N50μm	φ21x89mm
	FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm N50μm	φ15x62mm
电涡流法	N02	0-200μm	0.1μm	±(1%±0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
	N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%±1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
	N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
	N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x170mm
	N10	0-10mm	10μm	±(1%±25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
	N20	0-20mm	10μm	±(1%±50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
	N100	0-100mm	100μm	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
	CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面	7mm	无限制	φ17x80mm

注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。 N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。 CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

探头图示

	FN1.6 0～1600μm,φ5mm 两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属基体上的绝缘覆层量程低端分辨率很高(0.1μm)
	FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 两用测头，特别适合测粉末状的覆层厚度
	F05 0～500μm,φ3mm 磁性测头，适于测量细小钢铁物体的薄覆层，如金属镀层，氧化层等量程低端分辨宰很高(0.1μm)
	F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性测头量程低端分辨率很高(0.1μm)
	F3 0～3000μm,φ5mm 磁性测头可用于较厚的覆层
	F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性测头尤其适合于在管内壁测量量程低端分辨率很高(0.1μm)
	F10 0～10mm,φ20mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等
	F20 0～20mm,φ40mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等
	F50 0～50mm,φ300mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层
	N02 0～200μm,φ2mm 非磁性测头，尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层量程低端分辨率很高(0.1μm)
	N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层
	N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性测头，适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层量程低端分辨率很高(0.1μm)
	N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性测头，适于测量较薄的绝缘覆层尤其适合在管内壁测量量程低端分辨率很高(0.1μm)
	N10 0～10mm,φ50mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
	N20 0～20mm,φ70mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
	N100 0～100mm,200mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
	CN02 10～200μm,φ7mm 用于测量绝缘材料上的有色金属覆层，如覆铜板