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美国GE超声波探头

来自：深圳市泰立仪器仪表有限公司

面议

发布时间：2021-3-23 关注次数：175

产品参数

商品详情

品牌：GE	型号：IAP-..25.3.2	频率：0.25M Hz
功率：10 W	破碎容量：12 ml	占空比：20
电源：3 V	外形尺寸：9*9 mm	重量：0.03 kg
用途：超声波探头

美国GE超声波探头

美国GE超声波探头主要特性： •单晶探头用于超声脉冲的发射和接收 •通过水延迟通道进行纵波或横波的垂直或斜向扫描（非接触测试） •完全不漏水的版本设计，或者带有固定的连接电缆，或者带有水密封的连接插座（除Microdot外） •牢固的金属盒 •用通常采用的线聚焦和点聚焦方式增加了缺陷识别的能力 •使用具有较高频率的聚合物探头，从而对非常小的非均匀性具有非常高的探测能力。

A-..和IAP-..：用于由金属和非金属材料制成的零部件中*小缺陷的探测，有非常高的分辨率，这些缺陷在零部件表面下分布展开：例如半导体基体、电气插头和表面保护层中的材料分离、气孔和杂质等。同样地，它还可以应用于扩散焊接、电阻焊接和粘合焊接等的测试，以及由陶瓷、粉末金属、钛和其它合金制成的预制成型零部件的测试。

接触式和水浸式接触法探头

直射线---单晶

•被检测件有规则外形和相对光滑的接触表面

•接触面或平或曲

•缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测

•透透厚部件

•逐步块改善提高近场分辨率

•需要聚合层，一般为凝胶，油类，浆糊

•通常用于手动检测

直探头---双晶

•接受发射单元用串扰挡板分开

•缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的声束探测

•近表面分辨率好，用于较薄部件

•需要聚合层，一般为凝胶，油类，浆糊

•通常用于手动检测

斜探头

•芯片安装在内置的或可更换的斜块上

•利用折射让纵波或者横波沿确定角度传播

•大多数标准探针通过模式转换产生横波

•有所倾斜的缺陷的检测，如焊缝

•有单晶探头和双晶探头

•需要聚合层，一般为凝胶，油类，浆糊

•有时用于机械化或自动化检测2个换能器选择标准和性能

压电高聚物高频直探头	特性：非常高的分辨率，聚焦声束宽度非常小
IAP-..25.2.0.5 IAP-..25.2.1 IAP-..25.3.1 IAP-..25.3.2 IAP-..50.2.0.3 IAP-..50.2.0.5 IAP-..50.2.1 IAP-..50.3.1 IAP-..50.3.2
IA-..25.2 IA-..25.3 IA-..50.2 IA-..50.3