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测厚仪的工作原理根据其类型的不同而有所差异，主要可以分为接触式和非接触式两大类。下面，我们将详细介绍几种常见的测厚仪的工作原理。

1. 接触式测厚仪：这种测厚仪主要通过物理接触来测量材料的厚度。其中，最常见的是机械式测厚仪，如千分尺和厚度规。它们的工作原理是通过一个精密的机械结构，将测量头压在被测材料的表面，通过测量头与材料接触的深度，计算出材料的厚度。这类测厚仪适用于金属、塑料、橡胶等硬质材料的厚度测量，但对软质或易损材料可能造成损伤。

2. 超声波测厚仪：超声波测厚仪是非接触式测厚仪的一种，它利用超声波的传播特性进行厚度测量。超声波从发射端发射到被测材料的一侧，然后从另一侧反射回来，被接收器接收。超声波在材料中的传播速度是已知的，通过测量超声波往返的时间，可以计算出材料的厚度。超声波测厚仪适用于金属、塑料、陶瓷、复合材料等多种材料的厚度测量，尤其适合测量厚壁材料和难以接触的材料。

3. 射线测厚仪：射线测厚仪，如X射线测厚仪和γ射线测厚仪，也是非接触式测厚仪的一种。其工作原理是利用射线的穿透能力，射线穿过被测材料后，其强度会因材料的吸收而减弱，通过测量射线的穿透强度，可以计算出材料的厚度。射线测厚仪适用于金属、塑料、复合材料等材料的厚度测量，尤其适用于高温、高压、腐蚀性环境下的厚度测量。

4. 光学测厚仪：光学测厚仪，如干涉仪和光谱测厚仪，也是非接触式测厚仪的一种。其工作原理是基于光的干涉或反射原理，通过分析光的干涉条纹或反射光谱，可以计算出材料的厚度。光学测厚仪适用于透明或半透明材料的厚度测量，如玻璃、塑料薄膜、半导体材料等。

每种测厚仪都有其适用的范围和特点，选择合适的测厚仪需要根据被测材料的特性、测量精度的要求以及测量环境等因素来决定。

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