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光刻胶AZ胶正胶负胶AZ5214EAZ5200EAZ4562AZ1500系列
光刻胶AZ胶正胶负胶AZ5214EAZ5200EAZ4562AZ1500系列
来自:武汉迈可诺科技有限公司
4200.00人民币
发布时间:2024-11-1 关注次数:6
产品参数
产品参数
品牌 默克
规格型号 AZ5214E(25cp)125ml\/瓶
编号 AZ5214E(25cp)125ml\/瓶
计量单位
付款方式 面议
价格单位 人民币
商品详情
产品参数
品牌默克
产品名称AZ胶 光刻胶 AZ5214E AZ5200E AZ4562 AZ1500系列
产品规格125ml、250ml、500ml
用途范围适用于高分辨率工艺
是否进口
加工定制
包装规格1kg
容量125ml、250ml、500ml
可售卖地北京;天津;河北;山西;内蒙古;辽宁;吉林;黑龙江;上海;江苏;浙江;安徽;福建;江西;山东;河南;湖北;湖南;广东;广西;海南;重庆;四川;贵州;云南;西藏;陕西;甘肃;青海;宁夏
型号AZ5214E AZ5200E AZ4562 AZ1500

AZ5214E高解像度图形反转正/负可改变型光刻胶,特别为lift-off工艺优化。AZ5214E匀胶厚度1.5μm~3μm,AZ5200E系列匀胶厚度为:0.5μm~6μm。

AZ5214E特征:

1) 适用于高分辨率工艺(lift-off工艺);

2) 适用于正/负图形;

3) 很宽的膜厚范围。

AZ 5200E系列光刻胶参考工艺条件:

前烘?:100℃ 60秒 (DHP);

曝光?:I线步进式曝光机/接触式曝光机;

反转烘烤?:110~125℃ 90秒 (DHP):去离子水30秒;

全面曝光?:310~405nm

?(在曝光光源下全面照射);

显影?:AZ300MIF (2.38) 23℃ 30~60秒Puddle;

? ? ? ? :AZ Developer(1:1)23℃ 60秒Dipping;

? ? ? ? :AZ400K(1:4)23℃ 60秒Dipping;

清洗?:去离子水30秒;

后烘?:120℃ 120秒 (DHP);

剥离?:AZ剥离液及/或氧等离子体灰化;

产品型号:

型号

AZ5206E

AZ5214E

AZ5218E

AZ5200NJ

粘性

7mPa

25mPa

40mPa

85mPa

?

AZP4620超厚膜,高对比度,高感光度G线标准正型光刻胶,适用于半导体制造及GMR磁头制造。

特征:

1) 高对比度,高感光度

2) 高附着性,对电镀工艺高耐受性

3) 多种粘度可供选择

参考工艺条件:

前烘?:100℃ 90秒以上 (DHP)

曝光?:G线步进式曝光机/接触式曝光系统

显影?:AZ300MIF显影液23℃ 60~300秒

清洗?:去离子水

后烘?:120℃ 60秒以上

剥离?:AZ剥离液及/或氧等离子体灰化

产品型号:

型号

AZ P4210

AZ P4330

AZ P4400

AZ P4620

AZ P4903

粘性

49mPa

115mPa

160mPa

400mPa

1550mPa

?

AZ?4500系列??AZ4562

具有最佳粘附力的厚光刻胶

特点:

AZ???4500系列AZ???4533AZ???4562)是正性厚光刻胶,在普通湿法蚀刻和电镀工艺中具有优良的粘附性能:

l??优化对所有常见基材的附着力

l??宽广的工艺参数窗口,可实现稳定且可重复的光刻工艺

l??与所有常见的显影液兼容(基于KOH或TMAH)

l??与所有常见的去胶剂兼容(例如AZ100去胶剂、有机溶剂或碱性溶剂)

l??对g,h和i线敏感(约320-440 nm)

l??光刻胶厚度范围约?3-30微米

?

AZ???4500系列AZ???4533AZ???4562)的溶剂浓度不同,因此可达到的光刻胶膜厚有较大的范围:

光刻胶型号

光刻胶膜厚范围

包装规格

AZ???4533

转速为4000 rpm时,膜厚约为3.3 μm;通过改变转速,膜后可达2.5-5 μm。

多规格包装,如1L、2.5L等

AZ???4562

转速为4000 rpm时,膜厚约为3.3 μm;通过改变转速,膜后可达4.5-10 μm;调整旋转轮廓(中等旋涂速度下短时间旋涂),可达30 μm膜厚。

多规格包装,如1L、2.5L等


若光刻胶膜厚度 30 μm?

通常,AZ?4562可以用来涂覆厚度达30微米及以上。然而,在该厚度范围内,软烘烤、曝光、显影等变得非常耗时。此外,如果涂得太厚,AZ?4562也可能在曝光期间形成N2气泡。 因此,对于厚度大于30 μm的光刻胶膜厚度,强烈建议使用化学放大的AZ?40 XT光刻胶。

显影液——适用于AZ???4500光刻胶

如果可以使用含金属离子的显影液,可使用1:4稀释的KOH基AZ?400K作为显影液(对于更高的光刻胶膜厚度,可用1:3.5 - 1:1的稀释浓度)。

如果必须使用不含金属离子的显影液,我们建议使用基于TMAH基的AZ?326 MIF,AZ?726 MIF或AZ?826 MIF显影剂(未稀释)。

?

去胶剂——适用于AZ???4500光刻胶

对于非交联的光刻胶薄膜,可以使用AZ?100作为去胶剂,DMSO或其他常见的有机溶剂作为剥离剂。 如果光刻胶膜已交联(例如,在干法蚀刻等离子工艺或离子注入时,> 140°C的高温步骤时),我们建议使用不含NMP的TechniStrip P1316作为去胶剂。


EM胶

电子束光刻胶

型号

光源

类型

分辨率

厚度(um)

适用范围

SU-8 GM1010

电子束

负性

100nm

0.1-0.2

可用于做高宽比较大的纳米结构。

HSQ
XR-1541-002/004/006

电子束

负性

6nm

30nm~180nm

分辨率最好的光刻胶,抗刻蚀。

HSQ Fox-15/16

电子束

负性

100nm

350nm~810nm

分辨率最好的光刻胶,抗刻蚀。

PMMA(国产)

电子束

正性

高分辨率,适用于各种电子束光刻工艺,最常用的电子束光刻正胶。

PMMA(进口)

电子束

正性

MicroChem,各种分子量,适用于各种电子束光刻工艺,最常用的电子束光刻正胶。


PMGI&LOR Lift-off光刻胶<

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