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核工业北京地质研究院分析研究中心是以核能材料、放射性的制备、地质矿产和分析技术研究与服务为主的综合性检测实验室技术机构，也是核工业地质行业的仲裁分析实验室，是地质行业同位素分析、微束分析等领域的权威机构。核工业北京地质研究院分析研究中心采购了两台特殊的质谱仪，今年两台设备同时到货、安装。一台是法国公司的Cameca IMS 1280-hr高分辨二次离子质谱仪，另一台是TESCAN公司的双束聚焦离子束与飞行时间二次离子质谱联用。之所以采购两台二次离子质谱，是因为高分辨质谱仪以的检出限以及超高的分辨能力和精度著称，但成像及原位分析能力较差而联用是扫描电镜（SEM）、聚焦离子束（FIB）和飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS），三者的结合，具有SEM的二维高分辨成像和成分、结构等分析能力，结合FIB的微区分析与加工能力，实现成分和结构的三维分析FIB与TOF-SIMS的联用，相比于大型质谱仪具有更高的空间分辨率、更快速的成像速度、更优异的成像能力，同时操作也更简单灵活。

 

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