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日本中央电机微缺陷检测设备
来自：深圳市秋山贸易有限公司
1人民币
发布时间：2021-3-24
关注次数：219
产品参数
商品详情
微缺陷检测设备
使用高分辨率相机和高精度XY载物台的二维检查设备。
适用于检查光学膜，片，触摸面板等的表面划痕，异物和缺陷。
光学分辨率为“ 1.8μm”，可以进行超高清检查。
它也可以用于尺寸测量，并且可以检查二维冲压产品。
特征
- 检查数据和图像自动保存
- 相机像素数：900万像素
- 高光学分辨率（1.8μm）使精美的检查点看起来更漂亮
- 非常适合检查触摸屏的外围电极，印刷电路板上的细线断线和短路
检查使用
用于检查触摸屏和异物等缺陷！
- 触摸屏周边电极缺陷检查
- 板材表面划痕，异物检查
- 板缺陷检查
规格
| 外形尺寸 | 1000 x 1200 x 1080毫米 |
|---|---|
| 重量 | 400公斤 |
| 测量范围 | 600 x 400毫米 |
| 被测物体的高度 | 30毫米 |
| 光学分辨率 | 1.8微米 |
| 控制分辨率 | 1.0微米 |
| 重复定位精度 | ±5微米 |
| 光学倍率 | 2次 |
| 视场 | 6.3毫米x 5.0毫米 |
| 监视器 |
TFT 23.6型宽 分辨率：1920 x 1080像素 |
| 相机 |
CCD单色1英寸 像素数：900万像素 |
| 镜片 |
远心镜头 WD：65毫米 景深0.095毫米 |
| 照明 | 同轴落射照明 |
| 电源 | AC100V 50/60赫兹 |
| 开发语言 | LabVIEW |
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