概述 
XIK-SPA射频导纳物位控制器是用于检测料仓、料槽或其它容器中带粘附性的液体、固体颗粒、粉 尘、其它混合浆料等料位的位式控制仪表。亦可用于两种不同液体之间界面测量，如油水界面测量。 
XIK-SPA射频导纳物位控制器具有校准简单快捷、产品性能稳定、各种型号通用性强、安装方便、 外形美观等优点。可广泛用于石油、化工、冶金、电力、医药、食品、造纸、建材等工业领域。且控制 器可与 PLC 可编程控制器或 DCS 集散控制系统配套使用，实现工艺流程的自动检测和自动控制。
工作原理 
1.XIK-SPA 射频导纳物位控制器是利用高频技术，由电子线路产生一个小功率射频信号于探头上， 探头作为敏感元件，将来自物位介电常数引起的信号变化反馈给电子线路；由于这些变化包括电容量和 电导量的变化，因而电子线路中处理的是电抗（容抗和阻抗的综合变化的信号）信号。 
2.电抗的变化又引起了极棒上高频信号的相位发生变化。因此极棒上的高频信号与电子线路中的基 准信号的相位差也随之发生变化，该变化经处理后，驱动输出电路发出报警信号，从而达到检测料仓有 无物料。 
3.XIK-SPA 射频导纳物位控制器采用三端 Cote–Shield 技术，排除探测极棒上粘附物料对控制作 用的影响。电子线路中产生的高频信号，一路直接送往探测极棒上，另一路经过一个RF电压跟随器送往 防粘附保护套上。其大小相位都是与加在探测极棒上的信号相同。当有物料粘附在探头上时，由于保护 套与仓壁之间构成一个电容，所以加在保护套上的高频信号就会使该电容趋向饱和，以致探头上的高频 信号就无法通过粘附层流入容器壁，当容器内大量物料接触探头时，探头上的电流绕过饱和区流向容器 壁，从而产生有物料存在的信号。
主要技术参数 
工作电源：24VDC；220VAC 
相对湿度：≤85% 
输出信号：两组常开、常闭触点 
触点容量：AC220V，5A; DC24V，3A 
环境温度范围：-40℃～+60℃ 
介质温度：-180℃～+500℃ 
延迟时间：0.2S（0.2～30S 可调） 
防护等级：IP65 
探头材质：316 不锈钢、四氟乙烯、高温塑料、陶瓷 
防爆等级：ExdIIBT4 
连接方式：3/4″NPT 螺纹；3/4″管螺纹；法兰（可选）；1–1/ 2″管螺纹 
安装方式：顶装、侧装